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技術文章
  • 和田臺式粗糙度儀 S2
  • 照度計的基本原理知識
  • ZDR系列智能數據記錄儀一覽表
  • 示波器基礎(一)——示波器基礎知識之二
  • 淺談數字多用表的選用
  • 如何用F43B測量電能千瓦時(kWh)
  • 如何選擇超聲波探傷儀(案例分析)
  • 照度計的定標原理方法及定標曲線因素
  • 可燃氣體報警器類型詳細介紹
  • 選擇示波器要考慮的十大因素
  • 當前位置:首頁 > 和田儀器儀表 > 和田無損檢測儀器 > 和田粗糙度儀
    臺式粗糙度儀
    型 號:S2
    品 牌:德國馬爾
    技術指標:范圍/分辨率  ± 25 μm/0.8 nm
    和田臺式粗糙度儀-S2-德國馬爾

     Mahr 的臺式表面測量儀適合于生產現場環(huán)境, 不但性能高而且操作簡易。 可處理在生產現場不斷增加的測量任務, 進行評定

    和文檔處理都表現極強的靈活性。  按照 ISO, JIS 和 ASME 標準, 可進行對標準粗糙度, 波度及輪廓參數的評定。無滑塊傳感器結合容
    易更換的測尖, 可快速實現不同的測量任務。


    Perthometer S2


    Perthometer S2 有如下特征:
    •  依照現行標準可實現粗糙度和波度測量
       (DIN EN ISO 3274, 例如: 帶通濾波器)
    •  重量輕 (不包括內置充電電池)
    •  高分辨率的圖形顯示, 可清晰顯示測量結果和輪廓
    • 基于自動測量原理和多測量元素, 使得操作更簡單
    • 通過內置熱敏打印機, 快速打印測量記錄
    • PCMCIA 存儲卡可存儲測量程序、測量結果和輪廓
    • S2Prog 擴展程序, 可簡單地建立測量程序

    •  用途廣泛和簡易應用的軟件功能, 例如:
    -  自動設置標準濾波器和掃瞄長度功能
    -  校準和維護周期監(jiān)察功能
    -  弧線濾除功能
    -  動態(tài)和靜態(tài)校準程序
    -  多達 41 種評定參數, 按照 DIN EN ISO, JIS, ASME,
    MOTIF, R, W, P 和 D 輪廓及特性曲線, 并可設定
    MRC/ADC 不同比例縮放
    -  濾波器和掃瞄長度可選
    -  公差監(jiān)控, 以聲音和圖標提示
    -  密碼保護功能, 防止錯誤的設置和修改
    -  內置統(tǒng)計功能
    -  獨立功能按鍵
    -  簡易呼出和打印測量記錄及各種功能
    •  通過 PCMCIA 記憶于進行軟件升級
    •  SPC 接口可實現 S2 與生產程序連接
    •  RS 232 接口可實現數據傳輸和遠程控制


    Perthometer S2 配置 PZK 用于移動測量


    技術特征

    Perthometer S2.  配置 PZK 驅動器的移動式表面測量站
     
    Perthometer S2 的特點見第5頁
     
    用于移動測量的重點: 
    •  重量 < 3 kg (6.6 lbs)
    •  充電電池可進行超過 1,000 個測量
    •  存儲卡可存儲測量結果, 輪廓和測量程序


    Perthometer S2 配置 PZK 用于臺式測量

    技術特征

    Perthometer S2.  配置 PZK 驅動器的臺式表面測量站
     
    Perthometer S2 的特點見第5頁
    Perthometer S2 還包括以下特點:
    •  條形圖顯示傳感器位置信號
    •  數字按鈕輸入
    •  可記錄測量日期和時間
    •  輪廓水平和垂直方向縮放比例可調

    •  可快速顯示測量結果, 包括參數和輪廓演示


    Perthometer S2 配置 GD 25 用于移動測量


    技術特征 

    Perthometer S2. 配置GD 25 驅動器的移動式表面測量站
     
    Perthometer S2 的特點見第5頁
     
    • S2 通過控制GD 25 驅動器垂直軸方向, 實現傳感器自動定

    • 電動高度調節(jié)范圍 4 mm (.158 in)
    • 建立和開始測量, 傳感器可電動調整到零位(專利)


    Perthometer S2 配置 GD 25 用于臺式測量


     技術特征

    Perthometer S2. 配置GD 25 驅動器的臺式表面測量站
    Perthometer S2 的特點見第5頁
    • S2 通過控制GD 25 驅動器垂直軸方向, 實現傳感器自動定

    • 電動高度調節(jié)范圍 4 mm (.158 in)
    • 建立和開始測量, 傳感器可電動調整到零位(專利) 


     Perthometer S2 配置 PGK 120 用于臺式測量

     技術特征 

    Perthometer S2. 配置PGK 120 驅動器的臺式表面測量站
     
    Perthometer S2 的特點見第5頁
     
    • S2 通過控制PGK 120 驅動器垂直軸方向, 實現傳感器自動
    定位
    • 手動高度調節(jié)范圍50 mm (1.969 in)
    • 建立和開始測量, 傳感器可電動調整到零位(專利)

    Perthometer S2 配置 PGK 120 用于臺式測量

    技術特征 

    Perthometer S2. 配置PGK 120 驅動器的臺式表面測量站
     
    Perthometer S2 的特點見第5頁
     
    • PGK 120 驅動器可連接在測量工作臺上進行使用, 通過控制面
    板可電動調節(jié)高度范圍 25 mm 至 410 mm (.984 in 至 16.14
    in) (可選擇高達 660 mm (26 in)), 夾具裝置可令驅動器在+30°
    to –45°的范圍內旋轉測量

    用于 MarSurf S2 的 MarSurf XR 20 評定軟件  

     技術特征

    • 依照 ISO / JIS 或 MOTIF標準, 可測量多達 65 種參數,  包括
    R, P 和 W 輪廓
    • 公差監(jiān)控和數據統(tǒng)計功能
    • 通過 Teach-In 模式, 快速建立 Quick & Easy 測量程序
    • 廣泛的記錄功能
    • 模擬操作可幫助操作者更快地悉識系統(tǒng)操作
    • 按客戶的實際應用情況, 選擇不同的系統(tǒng)兀配置
    • 可設置不同水平的用戶權限
    • 通過計算機連接打印機, 可打印 A 4 表格
    • 可在計算機上獲得所測的輪廓

    Perthometer S2. 技術數據
     
    測量原理   探針接觸測量法
    測量范圍
    范圍/分辨率  ± 25 μm/0.8 nm
    (± 1,000 μin/.032 μin)
    ± 250 μm/8 nm
    (± 10,000 μin,/.315 μin)
    ± 2,500 μm/80 nm
    (± 100,000 μin/3.15 μin)
    65,536 步長/垂直范圍
    11,200 測量點/標準掃瞄長度
    標準  DIN EN ISO/JIS/ASME 46.B
    輪廓類型  R, D, P, W (輪廓可例轉) 
    垂直方向縮放比例 0.1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自動
     (3.937 μin/div. 至 .197 in/div.) 
    水平方向縮放比例 1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自動
    用于評定長度輪廓   (39.370 μin/div. 至 .197 in/div.) 
    圖形 lm 0.40/1.25/4.00/12.50/40.00 mm
    (.015/.049/.157/.492/1.575 in)
    掃瞄長度 Lt 0.56/1.75/5.6/17.5/56.00 mm
    (.022/.070/.224/.700/2.240 in)
    掃瞄長度 1/2/4/8/12/16  mm
    (MOTIF)  (.040/.080/.160/.320/.480/.640 in)
    特殊掃瞄長度 0.56 至 120.00 mm, 可調
    (.022 in 至 4.724 in)
    取樣長度個數 1 至 5, 可選
    濾波器 (根據 ISO/JIS)  相位濾波器 (高斯濾波器), 按照
    DIN EN ISO 11562 標準
    特殊濾波器  按照 DIN EN ISO 13565-1, 1997;
    lc/ls 按照 ISO 3274, ARC 功能
    截止波長 lc 0.08/0.25/0.8/2.5/8 mm
    (.003/.010/.032/.100/.320 in)
    短截止波長 lc/可選   有
    參數  Ra, Rq; Rz, Rt, Rp, Rv, RSm, Rdq, 
    (帶有公差極限)  Rsk, Rku, Rdc, Rmr, Pmr, Pt, Wt, Pdc
    (DIN EN ISO 4287), Wa, HSC, Wg, WSm,
    Rz1max, Rmax (DIN 4288),
    Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, Pdc, A1, A2
    (DIN EN ISO 13565)
    Rpmax, Rvmax, Rpc (prEN 10049), R, Ar,
    W, Aw, Rx, Wx, Wte, Nr, Ncrx, Nw, CP
    (ISO 12085), R3z (DBN 31007), RzJ, S
    (JIS B 601)
    參數表 Rmr; Pmr; Rdc; Pdc; Rk; Rz; Rp;
    Nf; CR/CF/CL (輪廓種類可選, 基線
    和交叉線可調)
    特征曲線  輪廓圖, 材質比率(Abbott 曲線), 震
    幅密度; (輪廓種類可選)
    校準功能  動態(tài)和靜態(tài)
    公差監(jiān)控  有, 最大/最小
    自動功能  有, 選擇標準濾波器和掃瞄長度
    統(tǒng)計  每個測量程序10 個參數
    X, S, R; Max, Min, 最多 200 個測量
    超差結果統(tǒng)計
    無效測量統(tǒng)計
     
    13 種語言   英語, 德語, 法語, 意大利語, 葡萄
    牙語, 西班牙語, 瑞典語, 丹麥語,
    捷克語, 波蘭語, 中文, 韓語, 日本
    軟件 S2Prog Windows 程序;
    MarSurf  XR 20 (可選)
    密碼保護  有
    日期/時間   有
    單位 mm/inch   可選
    存儲 PCMCIA 記憶卡用來存儲輪廓、測
    量結果、測量程序/ 內置存儲測量結
    果和統(tǒng)計
    顯示  帶背景光的 LCD 圖像顯示, 黑白480 x
    320 像素, 輪廓演示
    鍵盤  薄膜鍵盤
    打印機  熱敏圖表打印機,
    384 點/行;
    8 點/mm  (200 點/in) 
    打印速度  5 mm/s (.2 in/s)
    打印  自動/手動, 記錄日期和/或時間
    尺寸 (高x闊x深)   約 150 x 320 x 250 mm
    (5.906 x 12.600 x 9.843 in)
    裝置防護等級 IP 40;
    鍵盤防護等級 IP 54;
    溫度范圍
    存儲  –15 to +55 °C (41°F to 104°F) 
    操作  +5 to +40 °C (5°F to 131°F) 
    相對濕度 30 % to 85 % (非壓縮) 
    重量 < 3 kg (6.6 lbs)
    電源  拔插電源9 V; 鎳鎂電池
    充電情況顯示  有顯示
    電源管理  有
    連接  驅動器, RS 232 C 和 SPC 接口, 拔插
    電源, PCMCIA 卡槽, 保險絲
    電感傳感器  運送頻率 20 kHz
    傳感器種類/  R-系列 (滑塊):
    測量范圍
    (設定 2 μm   ±50/250 μm (± 2000 μin/10,000 μin)
    (.00039 in)/90°) MFW (skidless): ±250  μm (10,000 μin)
    FRW (skidless)  (10 μm (400 μin), 90°):
    ± 750 μm (30,000 μin)
    Focodyn, LS1/LS10 (選配):
    ± 250 μm (10,000 μin)
    測量力   R-系列: 約 0.7 mN
    MFW: 0.7 mN / FRW: 6 mN
    Focodyn/LS 1/LS 10: 激光
    驅動器 PZK, GD 25, PGK 120, PRK 通過 PAV 62
    測量速度  0.1 和 0.5 mm/s (.0394 和 0.197 in/s)

    粗糙度測量,
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