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    STODA涂層測(cè)厚儀
    型 號(hào):STD2100
    品 牌:國(guó)產(chǎn)
    技術(shù)指標(biāo):測(cè)量范圍:0~1250μm
    白銀STODA涂層測(cè)厚儀-STD2100-國(guó)產(chǎn)

    STD2100涂層測(cè)厚儀是一種便攜式測(cè)量?jī)x,它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。本儀器采用了磁性測(cè)厚方法,可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)。能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)必備的儀器。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。



    產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):

    STD2100涂層測(cè)厚儀與北京時(shí)代/德國(guó)EPK/易高等同類相比的優(yōu)點(diǎn):

    ①速度快:測(cè)量速度比國(guó)內(nèi)同類產(chǎn)品快6倍,比EPK等進(jìn)口產(chǎn)品還快二倍;

    ②精度高:本公司產(chǎn)品簡(jiǎn)單校0后精度即可達(dá)到1-2%,是目前市場(chǎng)上唯一能達(dá)到A級(jí)的產(chǎn)品,非金屬涂層測(cè)厚儀,其精度遠(yuǎn)高于時(shí)代等國(guó)內(nèi)同類,比EPK等進(jìn)口產(chǎn)品精度也高;

    ③穩(wěn)定性好:穩(wěn)定性(測(cè)量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性)比時(shí)代等國(guó)內(nèi)所有產(chǎn)品都好的多,也優(yōu)于進(jìn)口產(chǎn)品;

    ④中文顯示:功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文。


    主要技術(shù)指標(biāo):

    使用環(huán)境溫度

    040

    測(cè)量范圍

    01250μm

    測(cè)量誤差

    ±1%H+1um

    顯示分辨率

     

    0.1μm(測(cè)量范圍小于100μm

    1μm(測(cè)量范圍大于100μm

    電源

    鎳氫電池9V

    外型尺寸

    150×80×30mm

    重量

    300g



    主要功能:

    • 二種校準(zhǔn)方法:一點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn)
    • 設(shè)五個(gè)統(tǒng)計(jì)量,mpor涂層測(cè)厚儀,存儲(chǔ)500個(gè)數(shù)據(jù);
    • 有兩種工作方式:直接方式和成組方式;
    • 有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量和單次測(cè)量;
    • 有兩種關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)關(guān)機(jī)和自動(dòng)關(guān)機(jī);
    • 可設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警,涂層測(cè)厚儀器,并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析;
    • 有刪除功能:對(duì)粗大誤差及錯(cuò)誤設(shè)置可進(jìn)行刪除處理;
    • 有音樂(lè)鈴聲隨時(shí)對(duì)操作進(jìn)行提示;
    • 有電源欠壓指示功能、錯(cuò)誤提示功能


    基本配置:

    主機(jī)、F1探頭、校準(zhǔn)片、基體等、說(shuō)明書(shū)、包裝箱


    可選探頭型號(hào)及技術(shù)參數(shù):

    探頭型號(hào)

    F400

    F1

    F1/90°

    F10

    工作原理

            應(yīng)

    測(cè)量范圍(mm)

    0400

    01250

    010000

    低限分辨力(mm)

    1

    1

    10

    示值

    誤差

    一點(diǎn)校準(zhǔn)(mm)

    ±(3%H+0.7)

    ±(3%H+1)

    ±(3%H+10)

    二點(diǎn)校準(zhǔn)(mm)

    ±(1%H+0.7)

    ± (1%H+1)

    ±(1%H+10)

    測(cè)試

    條件

    最小曲率半徑(mm)

    1

    1.5

    平直

    10

    最小面積的直徑(mm)

    F3

    F7

    F7

    F40

    基體臨界厚度(mm)

    0.2

    0.5

    0.5

    2

    注:STD2100涂層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置F1探頭(可測(cè)磁性材料表面涂層)


    同類產(chǎn)品
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