|
|
|
X 射線熒光測量系統(tǒng) |
|
| 型 號：X-RAY 4000 |
| 品 牌：德國菲希爾Fischer |
| 技術指標：連續(xù)的在線測量和分析 |
 |
達州X 射線熒光測量系統(tǒng)-X-RAY 4000-德國菲希爾Fischer
X 射線熒光測量系統(tǒng)，筆式涂層測厚儀，用于在光滑和壓�。ò◣в需T模接觸面）的軸帶生產過程中，國產涂層測厚儀，進行連續(xù)的在線測量和分析
特點
-
用于在持續(xù)生產過程中對薄膜、軸帶和沖壓帶上的涂鍍層進行連續(xù)測量
-
可按照樣品運動方向正確調整測量頭的角度
-
操作簡單，phynix涂層測厚儀，設置時間短
-
X射線探測器可以為比例計數管，涂層測厚儀器，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探測器
-
有定位裝置，進口測厚儀，用于測量多個位置進行測量
-
根據客戶需要專門設計
-
自動校準
-
可以快速地從一條生產線上轉移到另一條生產線
-
可方便地集成到質量控制系統(tǒng)和過程控制系統(tǒng)中
典型應用領域
-
電鍍條帶，一體式涂層測厚儀，例如接觸點、沖壓帶
-
測量熱鍍鋅鋼帶
-
太陽能薄膜電池（光伏產業(yè)
-
薄膜和條帶上的金屬涂鍍層
-
電子工業(yè)及其供應商
-
生產過程監(jiān)控
|
