| 產品圖片 | 產品名稱/型號 | | 主要技術指標 | 價格 |
| FX-GD系列克拉天平,3200g,0.01g
FX-3000GD | 日本AND | 稱重范圍3200g讀數精度0.01g重復精度0.01g | 洽詢
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| 精密電子分析天平,2200g,0.01g
FZ-2000i | 日本AND | 稱重范圍：2200g | 洽詢
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| 電子分析天平,210g,0.1mg
HR-200 | 日本AND | 測量范圍:210克 | 洽詢
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| 日本AND MC系列精密天平
AND MC系列 | 日本AND | 標配玻璃防風罩（MC-1000/6100）或簡易防風罩（MC-10K/30K） | 洽詢
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| FX-iWP 系列防水精密電子天平,2200g,0.01g
FX-2000iWP | 日本AND | 量程2200g 精度 0.01g 稱盤尺寸 Ø150mm | 洽詢
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| FX-iWP 系列防水精密電子天平,320g,0.001g
FX-300iWP | 日本AND | 量程 320g 精度
0.001g
稱盤尺寸 Ø
130mm
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| FX-i系列精密天平,1220g,0.01g
FX-1200i | 日本AND | FX-1200i
1220g
0.01g
直徑150mm
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| 日本AND BM系列自動微量分析天平1μg
BM系列 | 日本AND | 最小顯示精度1μg(BM-20/BM-22)<br/>元素分析/煙塵分析/環(huán)境測定/生化相關實驗/微量分析測量 | 洽詢
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| FX-i系列精密天平,320g,0.001g
FX-300i | 日本AND | FX-300i
320g
0.001g
直徑130mm
| 洽詢
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| 微量分析天平,220g,0.1mg
GH-202 | 日本AND | 專業(yè)型高精度寬范圍微量天平 | 洽詢
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| 電子分析天平,210g,0.1mg
GR-202 | 日本AND | 測量范圍:210/42克 | 洽詢
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| 日本AND HR-AZ/HR-A系列分析天平
HR-AZ/HR-A系列 | 日本AND | 內置校準砝碼，自動自校準（ＨＲ－ＡＺ） | 洽詢
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| GP-K系列精密工業(yè)天平,31kg/6.1kg,1g/0.1g
GP-32K | 日本AND | 稱重范圍31Kg / 6.1Kg 讀數精度1/ 0.1g 重復精度0.5g / 0.1g | 洽詢
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| FX-CT系列克拉天平,310g,0.001g
FX-300CT | 日本AND | 稱重范圍（ct/g）
310/62
讀數精度(ct/g)
0.001/0.001
重復性(ct/g)
0.001/0.005
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| FX-GD系列克拉天平,122g,0.001g
FX-120GD | 日本AND | 稱重范圍
122g
讀數精度
0.001g
重復精度
0.001g
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| 電子分析天平,310g,0.1mg
HR-300 | 日本AND | 精度 0.1mg | 洽詢
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| 分析天平,210g,0.1mg
GR-200 | 日本AND | 測量范圍:210克 | 洽詢
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| 日本AND AD-4212A系列高精度天平,0.1mg
AD-4212A | 日本AND | 稱重單元與顯示單元分別放置通過2米電纜連接,電纜可延長到最長5米,顯示單元可安裝到易于操作的地方。 | 洽詢
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| FX-GD系列克拉天平,2200g,0.01g
FX-2000GD | 日本AND | 稱重范圍2200g讀數精度0.01g重復精度0.01g | 洽詢
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| FX-GD系列克拉天平,220g,0.001g
FX-200GD | 日本AND | 稱重范圍
220g
讀數精度
0.001g
重復精度
0.001g
| 洽詢
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