1主題內(nèi)容與適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了接觸式A型顯示超聲斜射縱被,橫波、稍利造、菜姆波的檢驗(yàn)技術(shù)及它們的校準(zhǔn),同時(shí)對(duì)系統(tǒng)設(shè)備作了適當(dāng)?shù)囊?guī)定.

本標(biāo)準(zhǔn)適用于常規(guī)超聲探傷中超聲探頭與被檢物直接接觸進(jìn)行的斜射探傷

2引用標(biāo)準(zhǔn)

ZB Y 230-84 A型膚沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件

ZB Y 231-84超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法

ZB Y 232-84超聲探傷用1號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件

ZB J 04001-87 A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法

了一般規(guī)定

3.1 耀聲斜射探f方法應(yīng)根據(jù)材料的幾何形狀以及缺陷可能存在的位置、形狀、大小、方向和反射率來選擇波束方向和振動(dòng)模式。

3.2操作者需持有國(guó)家有關(guān)主管部門頒發(fā)的并與其工作相適應(yīng)的資格證書.

3.3 如需定t進(jìn)行超聲斜射探傷,H儀器適用的友聯(lián)超聲波探傷儀垂直線性和水平線性都應(yīng)按ZB Y 230標(biāo)準(zhǔn)校驗(yàn)或由檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)和要求檢驗(yàn)單位雙方同意的其他方法校驗(yàn).

3.4 檢驗(yàn)前應(yīng)按ZBJ 04001標(biāo)難校準(zhǔn)探傷系統(tǒng).

3.5 檢驗(yàn)結(jié)果按披檢產(chǎn)品驗(yàn)收技術(shù)條件或規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)作出評(píng)定。

4檢驗(yàn)系統(tǒng)

4.1 儀器

超聲探傷儀應(yīng)符合2B Y 230標(biāo)準(zhǔn),如對(duì)探傷儀有特殊要求也可用產(chǎn)品承檢單位和送檢單位雙方同意的其他方法校驗(yàn)

4.2探頭

斜射橫波檢測(cè)探頭應(yīng)符合ZB Y 231標(biāo)準(zhǔn),探頭上應(yīng)附有能按需要的角度和被型并能向被檢物傳遞超聲波的斜模,共他探頭也可參照ZB Y 231標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行.

4.3耦合劑

4.3.1 探頭斜撰和被檢物檢查表面間應(yīng)施加足夠的耦合劑,以保證檢測(cè)時(shí)具有良好的聲耦合,4.3.2 耦合劑通常為液體或糊狀體,典型的概合劑為機(jī)油、水、甘油、漿糊、水溶性油和油脂等,耦合劑可深加防銹劑或潤(rùn)濕劑。選擇的羈合劑應(yīng)對(duì)產(chǎn)品或工藝無害.

4.3.3不適于探傷的表面必須用適當(dāng)?shù)姆椒ㄟM(jìn)行加工。在適于超聲波探傷儀探傷后應(yīng)根據(jù)被檢材料的表面粗穩(wěn)度和探測(cè)位置取向選擇合適的耦合劑,一般來說檢專表面粗糙或傾斜的材料時(shí)需用較高粘度輛合劑,檢驗(yàn)時(shí)用的耦合劑須與校準(zhǔn)時(shí)用的相同。

4.4校準(zhǔn)用試塊

4.4.1 具有已知尺寸人工反射體的試塊都能作為校準(zhǔn)用試塊.

4.4.2人工反射體的形狀可以是橫孔、刻糟或平底孔。

4.4.3試塊應(yīng)采用與被檢物具有相同聲建、衰減、曲率和表面粗糙度的材料。若不能滿足這些條件,則應(yīng)在產(chǎn)品檢查時(shí)引起的影響作適當(dāng)修正;對(duì)不同具體產(chǎn)品的修正方法應(yīng)列入產(chǎn)品驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)中,1.4.4 檢測(cè)時(shí)應(yīng)根據(jù)相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)和有關(guān)規(guī)定選用校準(zhǔn)用試塊,校準(zhǔn)用試塊不得混雜使用。

4.5 檢驗(yàn)時(shí)和校準(zhǔn)時(shí)被檢物表面溫度差應(yīng)在士14℃內(nèi),以免在斜模材料內(nèi)產(chǎn)生較大的衰減和聲速差異。

5斜射橫波檢驗(yàn)技術(shù)和校準(zhǔn)

5.1 檢驗(yàn)技術(shù)

5.1.1 最常用的斜射橫波折射角應(yīng)在400~75"范圍內(nèi),折射角在80-~859時(shí)易在材料表面同時(shí)產(chǎn)生均利波,這種角度范圍內(nèi)的斜射被應(yīng)受到限制

5. 1.2 斜射橫波檢驗(yàn)通常采用單探頭型式,也可采用雙探頭型式,探傷時(shí)應(yīng)充分估計(jì)可能產(chǎn)生的缺陷類型及缺陷產(chǎn)生的方向,以便使超聲束射向缺陷而產(chǎn)生最理想的反射,如果缺陷的方向是任意的,則常需要用多個(gè)聲東方向檢在或?qū)⒙暭磙D(zhuǎn)動(dòng)。

5.2校準(zhǔn)

5.2.1 斜射欖波探傷由于探測(cè)對(duì)象不同,因此使用的頻率和探頭型試以及及他們使用的試塊也各不相

同。如被檢物有適當(dāng)?shù)膸缀涡螤?則被檢物本身就能提供更為可靠的校準(zhǔn)。

5.2.2 在具體產(chǎn)品的操臨規(guī)程中應(yīng)寫明使用頻率、探頭和試塊型式等,需要時(shí)應(yīng)作出距離-幅度校準(zhǔn)線。

5.2.3 在常用的聲程范圍內(nèi),斜探頭的距離特性曲線往往各不相同,因此在制作校準(zhǔn)曲線時(shí)必須用實(shí)際探傷用的探頭.

;斜射縱波檢驗(yàn)技術(shù)和校準(zhǔn)

6.1 檢驗(yàn)技術(shù)

6.1.1 科射縱波的折射角為1--40(此時(shí)同葉存在很異的斜射攢波)

6.1.2 斜射縱波探傷時(shí)總是同時(shí)存在橫波,因此校準(zhǔn)測(cè)距標(biāo)度時(shí)應(yīng)于注意,不要錯(cuò)誤引用行程時(shí)間較大的橫波倍號(hào)進(jìn)行校準(zhǔn).

6.1.3 在斜射縱波范圍內(nèi)一般應(yīng)用的探頭可分為三組即:單晶探頭、平行聲束的雙晶探頭和交叉聲束的雙晶探頭.

6.1. 3.1單品探

a. 斜射縱波范圍的單品探頭應(yīng)用不多,一般單品探頭可在軸類的端頭利用直接反射或角反射探測(cè)缺陷。

當(dāng)預(yù)期缺陷的主要反射面角度為已知時(shí),則檢驗(yàn)用聲束的角度應(yīng)與此反射面垂直。在缺陷可能存在的區(qū)域,應(yīng)在聲束與缺陷主要平面相互垂直的條件下對(duì)材料進(jìn)行掃查

b. 在特殊情況下奧氏體不銹鋼焊縫可采用斜射縱波探傷.

6.1.3.2平行聲束雙晶探頭

當(dāng)反射體的聲程較近時(shí),為避免斜模中的雜波,可采用分開的發(fā)射和接收探頭或雙晶探頭。在雙晶探頭中,發(fā)射品片及其斜模與接收品片及其斜模用隔聲材料分開,以防止串音,發(fā)射聲束和接收聲束基