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德國(guó)EPK
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美國(guó)達(dá)高特
德國(guó)馬爾
美國(guó)FLUKE
主要技術(shù)指標(biāo)
價(jià)格
超聲波測(cè)厚儀
MiniTest 430
德國(guó)EPK
示值精度:小于99.99mm時(shí)為0.01mm;大于100mm時(shí)為0.1mm
洽詢
涂層測(cè)厚儀
MiniTest 730
德國(guó)EPK
探頭類型:外置
洽詢
麥考特機(jī)械涂層測(cè)厚儀
MIKROTEST G 6
德國(guó)EPK
測(cè)量范圍:0-100μm
洽詢
庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀
GalvanoTest 2000
德國(guó)EPK
基礎(chǔ)型號(hào),可設(shè)置10種金屬的測(cè)量參數(shù)
洽詢
超聲波涂層測(cè)厚儀
QuintSonic 7
德國(guó)EPK
測(cè)量范圍:300 μm, 700 μm, 1,5 mm, 3,1 mm, 5,9 mm(2375 m/s 聲速在所有層)
洽詢
里氏硬度計(jì)
PhysiTest 13201
德國(guó)EPK
自動(dòng)測(cè)量1-9次測(cè)量的平均值;可設(shè)置上下限報(bào)警
洽詢
涂鍍層測(cè)厚儀
Minitest 1100
德國(guó)EPK
量程根據(jù)探頭決定
洽詢
涂層測(cè)厚儀
MiniTest 720
德國(guó)EPK
探頭類型:內(nèi)置
洽詢
涂鍍層測(cè)厚儀
MiniTest 600
德國(guó)EPK
測(cè)量范圍:
F型 (鐵基體)0 - 3000 μm
N型 (非鐵基體)0 - 2000 μm
FN型 (兩用探頭)0 - 2000 μm
洽詢
涂層測(cè)厚儀
MiniTest 7400
德國(guó)EPK
提供了一個(gè)特制的堅(jiān)固探頭系列(HD探頭)
洽詢
庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀
GalvanoTest 3000
德國(guó)EPK
可設(shè)置18種金屬的測(cè)量參數(shù),具有電解液飽和報(bào)警指示
洽詢
麥考特機(jī)械涂層測(cè)厚儀
MIKROTEST NI100
德國(guó)EPK
測(cè)量范圍:0-100um
洽詢
MiniTest70系列口袋式涂層測(cè)厚儀
MiniTest 70 F
德國(guó)EPK
量程:0-3mm/120mils
洽詢
霍爾效應(yīng)瓶壁測(cè)厚儀
FH7400
德國(guó)EPK
測(cè)量厚度高達(dá)10mm
洽詢
麥考特機(jī)械涂層測(cè)厚儀
MIKROTEST NI50
德國(guó)EPK
測(cè)量范圍:0-50um
洽詢
麥考特機(jī)械涂層測(cè)厚儀
MIKROTEST NIFE50 6
德國(guó)EPK
測(cè)量范圍:0-50μm
洽詢
麥考特機(jī)械涂層測(cè)厚儀
MIKROTEST S3 6
德國(guó)EPK
測(cè)量范圍:0.2-3mm
洽詢
涂鍍層測(cè)厚儀
Minitest 2100
德國(guó)EPK
量程根據(jù)探頭決定
洽詢
涂鍍層測(cè)厚儀
Minitest 4100
德國(guó)EPK
量程根據(jù)探頭決定
洽詢
筆式涂層測(cè)厚儀
PENTEST
德國(guó)EPK
測(cè)量范圍: 25-700um或1-28mils
洽詢
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