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日本新宇宙
主要技術(shù)指標
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氟利昂檢測器
XP-704
日本新宇宙
取代氟利昂氣體檢測器
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半導體工廠氣體檢測儀
PS-6
日本新宇宙
檢測原理:定電位電解式,熱線型半導體式,隔膜Galvanic電池式
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半導體工廠氣體檢測儀
XD-303PH
日本新宇宙
檢測對象氣體:膦
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半導體
XD-303BH
日本新宇宙
檢測對象氣體:乙硼烷
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半導體工廠氣體檢測儀
PS-6N
日本新宇宙
檢測原理:熱分解,定電位電解式
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半導體工廠氣體檢測儀
PS-6AH
日本新宇宙
檢測半導體工廠各類氣體
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半導體工廠氣體檢測儀
XP-703D
日本新宇宙
檢測氣體:半導體材料氣體(胂、膦、乙硼烷、硅烷、氫氣等)
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半導體工廠氣體檢測儀
PS-2DKP
日本新宇宙
檢測 SiH4(SiO2)
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半導體工廠氣體檢測儀
PS-2CKⅢ
日本新宇宙
檢測 TEOS等烷氧基系列氣
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半導體工廠氣體檢測儀
XD-303AH
日本新宇宙
檢測對象氣體:胂
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半導體工廠氣體檢測儀
PS-6ND
日本新宇宙
檢測原理:熱分解,定電位電解式;NF3,CCI4用
洽詢
半導體工廠氣體檢測儀
PS-6AD
日本新宇宙
檢測原理:定電位電解式,熱線型半導體式,隔膜Galvanic電池式
洽詢
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