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產品概述：

是一種多用途工業(yè)檢驗用光學儀器，金相顯微鏡的放大原理，配置明/暗場物鏡、大視野目鏡與偏光觀察裝置，透反射照明采用“柯勒”照明系統(tǒng)，金相顯微鏡使用方法，視場清晰。

功能特點：

可用于半導體硅晶片、LCD基板、電路板、固體粉未及其它各種透明或不透明工業(yè)試樣的檢驗，正置金相顯微鏡，是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子工程學等研究的理想儀器

技術參數：

▲      采用無限遠光學系統(tǒng)及模塊化功能設計。

▲      長工作距離明/暗視場平場物鏡，視場大而清晰。

▲      廣角平場目鏡：視場直徑Ф22mm。

▲      粗微動同軸調焦機構，金相顯微鏡xjl 5，粗動松緊可調，金相顯微鏡leica，帶限位鎖緊裝置，微動格值:2μm。

▲      內置式可切換偏光觀察裝置，金相顯微鏡的成像原理，起偏器可360°旋轉。

▲      上光源采用翻蓋式12V50W鹵素燈箱，金相顯微鏡排名，更換燈炮安全便捷，金相顯微鏡成像原理，下光源采用12V30W鹵素燈，偏振光金相顯微鏡，加裝散熱片。

▲      三目鏡筒可自由切換目視觀察與顯微攝影，金相顯微鏡 結構，攝影時可100%通光，適合暗視場顯微圖像拍攝。

基本配置：

可選附件：