昌吉涂層測(cè)厚儀-MiniTest 7400-德國EPK

創(chuàng)新的用戶界面概念結(jié)合便捷的數(shù)據(jù)管理，新產(chǎn)品MiniTest7400成為今天測(cè)量系統(tǒng)理想的解決方案。

新概念的優(yōu)勢(shì)

直觀的菜單控制及與上下文相關(guān)的聯(lián)機(jī)幫助，使用簡(jiǎn)易。大背光按鍵，即使戴著手套操作，也倍感舒適。大背光圖形顯示頻提供極佳的觀察效果，即使在晚上或能見度極低的條件下使用也極其方便。

配置管理幫助MiniTest 7400簡(jiǎn)化了校準(zhǔn)及參數(shù)設(shè)置，混凝土涂層測(cè)厚儀，無需專業(yè)技能，也可在最短的時(shí)間內(nèi)完成困難測(cè)量任務(wù)。先進(jìn)的數(shù)據(jù)管理如PC一樣提供快速創(chuàng)建文件夾和易于設(shè)置批組。除了數(shù)字顯示讀數(shù)，層次清楚的顯示統(tǒng)計(jì)值和讀數(shù)包括趨勢(shì)圖和直方圖、過程能力指數(shù)”Cp”和“Cpk”以及組統(tǒng)計(jì)值。錯(cuò)誤的讀數(shù)可以從批組中刪除以防止產(chǎn)生錯(cuò)誤的統(tǒng)計(jì)值。

龐大的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存器為必要的數(shù)據(jù)管理，可保存高達(dá)500批組的250,000個(gè)讀數(shù)。為滿足高精度測(cè)量的要求，7400探頭可達(dá)到5點(diǎn)校準(zhǔn)（包括零點(diǎn)）。預(yù)設(shè)的校準(zhǔn)方法符合工業(yè)準(zhǔn)則和ISO 19840，SSPC，“瑞典”，“澳大利亞”的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)。此外，延伸的特殊校準(zhǔn)方法也適用于粗糙表面的測(cè)量。

為了方便建立和評(píng)估測(cè)量值組和各種數(shù)據(jù)格式的輸出，標(biāo)準(zhǔn)配置包括計(jì)算機(jī)軟件包“MSoft 7 Professional”。軟件輸出數(shù)據(jù)如文本、Excel^®分析總表或PDF文檔，并允許筆記和注解條目。特點(diǎn)：測(cè)量樣品的圖片可以添加到數(shù)據(jù)報(bào)告中。

配備眾多的接口，涂層測(cè)厚儀探頭，MiniTest 7400可以連接各種外接設(shè)備。紅外接口(IrDA^®1.0)可作為標(biāo)準(zhǔn)配置。一個(gè)多用接線盒可用來作為一個(gè)USB接口連接各種設(shè)備，如外借電源、耳機(jī)、腳踏開關(guān)或警報(bào)器。對(duì)于單個(gè)裝置連接，則可選擇RS 232和USB連接線以及IrDA^®^//USB接口轉(zhuǎn)換器。

模擬信號(hào)處理時(shí)代已成過去，數(shù)字信號(hào)處理將成為未來的趨勢(shì)。

SIDSP^® 明顯優(yōu)勢(shì)

EPK此項(xiàng)探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理新技術(shù)為涂層測(cè)厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。高精度，高重現(xiàn)性，對(duì)溫度變化不敏感，適應(yīng)性強(qiáng)，這些都是SIDSP^®的主要特點(diǎn)。創(chuàng)新的生產(chǎn)技術(shù)結(jié)合自動(dòng)化校準(zhǔn)過程，而且每個(gè)探頭可獨(dú)立校準(zhǔn)，從而生產(chǎn)出高質(zhì)量7400的探頭。

這主要源于充分利用了SIDSP技術(shù)賦予的優(yōu)勢(shì)。無與倫比的精密生產(chǎn)過程使得每個(gè)探頭都如出一轍的優(yōu)質(zhì)。

重現(xiàn)性

讀數(shù)的可靠性主要取決于讀數(shù)的重現(xiàn)性。電磁干擾是最普遍的導(dǎo)致誤差的根源，所以保護(hù)測(cè)量系統(tǒng)和探頭電纜免受這些干擾非常重要。

跟傳統(tǒng)技術(shù)不同，無錫涂層測(cè)厚儀，SIDSP^®在探頭內(nèi)部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號(hào)�；貍鞯男盘�(hào)直接進(jìn)行數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理從而提供測(cè)量厚度值。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置，也就是說：在這種情況下模擬測(cè)量系統(tǒng)的信號(hào)傳輸過程中沒有更多干擾。即使您的測(cè)量工件需要特別長的電纜線也沒問題，加長的電纜線同樣具有極強(qiáng)的抗干擾能力。

EPK 的SIDSP^®探頭具有極高的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測(cè)量點(diǎn)測(cè)量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果，再次證明了SIDSP^®探頭的優(yōu)秀性能。

生產(chǎn)過程

在生產(chǎn)過程中，SIDSP探頭要經(jīng)過特殊的校準(zhǔn)程序，探頭在特征曲線上高達(dá)50個(gè)點(diǎn)進(jìn)行校準(zhǔn)，如此多個(gè)點(diǎn)的校準(zhǔn)使得特征曲線在整個(gè)量程范圍內(nèi)都十分精確以致可以消除其偏差。校準(zhǔn)數(shù)據(jù)被永久儲(chǔ)存在傳感器,無論與哪一種SIDSP顯示器相連，都可以迅速地被檢索。此外，生產(chǎn)過程中，探頭的溫度性能永久地決定整個(gè)工作溫度范圍。這樣，每個(gè)探頭都可以獨(dú)立調(diào)整溫度補(bǔ)償，在任何溫度即使溫度大幅度變動(dòng)，特征曲線仍可保持其精確度。